​三次元测量仪的本质是 “在三维坐标系中精准定位工件表面特征点”，通过机械结构带动探测系统移动，结合光栅尺的位置反馈，计算出特征点坐标，zui终通过软件分析得出测量结果，二手三次元供应小编给大家总结一下具体流程如下：
建立测量坐标系（基准校准）
测量前需先 “对工件进行找正”：将工件固定在测量台面上，通过探测系统采集工件上的 “基准元素”（如平面、圆柱面、孔），建立与工件适配的 “测量坐标系”（而非设备自身的机械坐标系）。
示例：测量一个带孔的长方体工件时，可选择工件的底面作为 Z 轴基准（设定底面为 Z=0 平面），两个垂直侧面分别作为 X 轴、Y 轴基准，通过探测 3 个底面点、2 个侧面点，软件自动计算并生成测量坐标系，确保后续测量数据与工件设计基准一致。
三维坐标数据采集（核心环节）
探测系统（如接触式探针、非接触式激光探头）在伺服电机驱动下，按预设路径移动并接触（或扫描）工件表面的 “测量特征”（如孔的圆心、轴的外圆、平面的轮廓线）。
设备的 “光栅尺”（安装在 X、Y、Z 三轴导轨上）实时记录探测系统的位置坐标（精度可达微米级甚至纳米级），将坐标数据传输至测量软件。
例如：测量一个圆孔的直径时，探针刺入孔内，在孔的圆周上均匀采集 4 个点，软件根据这 4 个点的 X、Y 坐标，通过圆拟合算法计算出圆孔的圆心坐标与直径尺寸。
数据计算与结果输出
测量软件对采集到的坐标数据进行 “几何运算与公差分析”：
尺寸计算：如两点间距离（长度）、两平面间距离（厚度）、圆的直径 / 半径、圆柱的同轴度等；
形位公差评定：如平面度（平面上各点与理想平面的偏差）、垂直度（两平面的垂直偏差）、位置度（特征点与理论位置的偏差）等；
轮廓比对：将采集的实际轮廓坐标与 CAD 设计模型的理论轮廓对比，生成 “偏差色谱图”（直观显示实际与理论的差异区域）。
zui终输出测量报告（可导出 Excel、PDF 格式），标注合格 / 不合格结果（如某孔直径设计值为 Φ10±0.005mm，实测值为 Φ10.003mm，判定合格）。